電容觸摸屏點(diǎn)擊劃線試驗(yàn)機(jī)主要參數(shù)：

電容觸摸屏點(diǎn)擊劃線試驗(yàn)機(jī)儀器特點(diǎn)：

1. 客戶提供觸摸數(shù)控IC 之工作通信協(xié)議，即可采集、分析、統(tǒng)計(jì)紅外觸摸屏之點(diǎn)擊精度、劃線精度、靈敏度、坐標(biāo)抖動(dòng)、報(bào)點(diǎn)頻率、響應(yīng)時(shí)間等性能，客戶提供觸摸數(shù)控IC 之底層通信協(xié)議，即可完成信噪比測(cè)試測(cè)試，兼容多家品牌IC，如Cypress(賽普拉斯)、Atmel(愛(ài)特梅爾)、敦泰(Focaltech)、melfas、pixcir、Elan、leadis、SSL、Avago、senteli、Hiamx、Synopsys、匯頂科技等；

2. 滿足CTP 屏精度測(cè)試、抖動(dòng)測(cè)試、線性度測(cè)試、靈敏度測(cè)試、長(zhǎng)時(shí)間劃線測(cè)試、長(zhǎng)時(shí)間點(diǎn)擊測(cè)試；

3. 運(yùn)動(dòng)軌跡及測(cè)試：方便的坐標(biāo)找點(diǎn)功能，只需于[教導(dǎo)程序]上任取三點(diǎn)可生成圓、三角等運(yùn)動(dòng)軌跡，任取二點(diǎn)可劃線，任取四點(diǎn)劃矩形，并可根據(jù)測(cè)試屏規(guī)格存儲(chǔ)運(yùn)動(dòng)軌跡便于下次調(diào)用；

4. 強(qiáng)大的存儲(chǔ)功能：由于測(cè)試文件存儲(chǔ)在計(jì)算機(jī)內(nèi)，不限組數(shù)，測(cè)試數(shù)據(jù)，方便調(diào)用；

5. 可實(shí)時(shí)顯示當(dāng)前X、Y、Z 軸坐標(biāo)值，電機(jī)驅(qū)動(dòng)速度、實(shí)時(shí)位置變化等；

6. 強(qiáng)大的測(cè)試軟件：軟件根據(jù)觸摸屏常用的測(cè)試方法，預(yù)置了多種測(cè)試方法，客戶只需要輸入觸摸屏的尺寸W&L，選擇測(cè)試方法(如精度測(cè)試、線性度測(cè)試等)即可測(cè)試，無(wú)需每次編輯；

7. 機(jī)臺(tái)采用高剛性鋁制表面經(jīng)陽(yáng)極氧化處理，富有質(zhì)感；

8. XYZ 三軸采用日本松下伺服電機(jī)驅(qū)動(dòng)，日本THK 精密滾珠螺桿+雙THK 線性導(dǎo)軌傳動(dòng)，高速低噪聲，耐久使用；定位精準(zhǔn)，重復(fù)精度≤0.01mm 為業(yè)內(nèi)*高；

9. 軟件精準(zhǔn)定位功能：可通過(guò)X1、X2、Y2 三個(gè)點(diǎn)精準(zhǔn)定位試樣，一次設(shè)定保存后，同規(guī)格樣品無(wú)需再次校對(duì)定位，效率更率，精度更高；

10. 雙工位輪流測(cè)試式設(shè)計(jì)，可選用真空吸附CTP 屏，加快了測(cè)試速度，節(jié)省換屏和夾裝時(shí)間；

11. 設(shè)備結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)合理，充分考慮到人體工程易操作性，布局合理，將干擾源降到*低。

電容觸摸屏點(diǎn)擊劃線試驗(yàn)機(jī)測(cè)試項(xiàng)目：

1. 滿足CTP 屏廠產(chǎn)線測(cè)試---更換不同通信協(xié)議端口，可快速實(shí)現(xiàn)不同IC 之屏測(cè)試；滿足手機(jī)、平板電腦等整機(jī)測(cè)試，通過(guò)WIFI 傳輸測(cè)試數(shù)據(jù)給電腦軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)采集、分析、統(tǒng)計(jì)，并生成PDF測(cè)試報(bào)表；

2. 點(diǎn)擊精度測(cè)試---根據(jù)客戶不同要求，在測(cè)試區(qū)域內(nèi)任意位置設(shè)置多點(diǎn)點(diǎn)擊，測(cè)試每個(gè)點(diǎn)的位置偏差，并支持兩點(diǎn)同時(shí)點(diǎn)擊，真實(shí)地檢測(cè)出產(chǎn)品的處理能力及精準(zhǔn)度；

3. 劃線線性度測(cè)試---支持平行線、垂直線、對(duì)角線、圓弧等多種圖像來(lái)檢測(cè)產(chǎn)品的線性偏差?？稍跍y(cè)試區(qū)域內(nèi)任意設(shè)置線距、線數(shù)及弧度的大小，并支持兩點(diǎn)同時(shí)劃線、兩點(diǎn)劃圓等多種測(cè)試方式，達(dá)到更準(zhǔn)確的體現(xiàn)產(chǎn)品的特性；

4. 靈敏度測(cè)試---可設(shè)定不同的劃線軌跡，實(shí)現(xiàn)接觸式劃線或非接觸式劃線，觸筆離產(chǎn)品的高度可按設(shè)定調(diào)節(jié)，并能自動(dòng)找出觸控高度；

5. 坐標(biāo)抖動(dòng)測(cè)試---在測(cè)試區(qū)域內(nèi)可設(shè)置多種測(cè)試圖形，并對(duì)每個(gè)點(diǎn)的數(shù)據(jù)進(jìn)行多次讀取，并計(jì)算出偏差值；

6. 劃線可靠性測(cè)試---在測(cè)試區(qū)域內(nèi)設(shè)置多種測(cè)試圖形，并按特定的時(shí)間及順序進(jìn)行劃線，判定在測(cè)試過(guò)程中是否有斷線現(xiàn)象；

7. 信噪比測(cè)試---通過(guò)對(duì)產(chǎn)品多點(diǎn)點(diǎn)擊測(cè)試，采集IC 采集的信號(hào)值并計(jì)算信噪比(需IC 協(xié)議支持)；

8. 報(bào)點(diǎn)頻率測(cè)試---在測(cè)試區(qū)域中心位置觸控產(chǎn)品，多次采集數(shù)據(jù)，計(jì)算出產(chǎn)品發(fā)出數(shù)據(jù)的頻率；

9. 響應(yīng)時(shí)間測(cè)試---在測(cè)試區(qū)域內(nèi)任意位置點(diǎn)擊，通過(guò)控制觸控并采集計(jì)算出產(chǎn)品的響應(yīng)時(shí)間，支持多點(diǎn)響應(yīng)時(shí)間測(cè)試；

10. 功耗測(cè)試---通過(guò)高精度毫瓦級(jí)功耗測(cè)試模塊測(cè)試出產(chǎn)品的靜態(tài)及動(dòng)態(tài)功耗(需IC 協(xié)議支持)；

11. 強(qiáng)大的數(shù)據(jù)庫(kù)功能，能快速的對(duì)采集回來(lái)的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析統(tǒng)計(jì)，實(shí)現(xiàn)圖形與數(shù)據(jù)鏈接，自動(dòng)生成各種測(cè)試報(bào)告，此報(bào)告格式可能要根據(jù)不同客戶要求改動(dòng)；

12. 軟件防呆能力、權(quán)限設(shè)置、一鍵式測(cè)試，操作簡(jiǎn)易，測(cè)試完畢可根據(jù)設(shè)定指標(biāo)(偏差值)自動(dòng)判定PASS OR FAIL。

電容觸摸屏點(diǎn)擊劃線試驗(yàn)機(jī)滿足電容屏精度、抖動(dòng)性、線性度、靈敏度等指標(biāo)測(cè)試(標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試圖形程序已內(nèi)置)：

1. 精度測(cè)試：

1). 測(cè)試方法：對(duì)13個(gè)圓形區(qū)域用接地的標(biāo)準(zhǔn)銅柱(?5mm、?6mm、?8mm，具體用哪個(gè)直徑銅柱根據(jù)實(shí)際項(xiàng)目需求)進(jìn)行觸摸，測(cè)試觸摸要20次以上，每次觸摸100ms，然后抬起500ms。記錄下TP報(bào)出的坐標(biāo)，圖2中區(qū)域劃分成4×4，長(zhǎng)寬計(jì)算如圖所示(W-5)/4，青色為非邊緣區(qū)(觸摸點(diǎn)1、2、3、4、5)，藍(lán)色為邊緣區(qū)(觸摸點(diǎn)6、7、8、9、10、11、12、13)。

2). 判定標(biāo)準(zhǔn)：記錄下的坐標(biāo)有無(wú)超出±1mm(非邊緣區(qū))，±2mm(邊緣區(qū))，超出結(jié)論為NG，不超出結(jié)論為OK。

2. 抖動(dòng)測(cè)試：

1). 測(cè)試方法：參照上面精度測(cè)試中圖所示，對(duì)每個(gè)點(diǎn)用接地標(biāo)準(zhǔn)銅柱(?5mm、?6mm、?8mm，具體用哪個(gè)直徑銅柱根據(jù)實(shí)際項(xiàng)目需求)進(jìn)行觸摸，不支放置5S，記錄下坐標(biāo)。

2). 判定標(biāo)準(zhǔn)：記錄下的坐標(biāo)有無(wú)超出±1mm(非邊緣區(qū))，±1.5mm(邊緣區(qū))，超出結(jié)論為NG，不超出結(jié)論為OK。

3. 線性度測(cè)試：

1). 測(cè)試方法：用接地標(biāo)準(zhǔn)銅柱(?5mm、?6mm、?8mm，具體用哪個(gè)直徑銅柱根據(jù)實(shí)際項(xiàng)目需求)分別以5mm/S和50mm/S畫(huà)線，記錄下坐標(biāo)的偏離度，其中豎線路徑從左到右分別為豎1到豎5，從上到下為橫1到橫5，從左上角到右下角為左對(duì)角，從右上角到左下角為右對(duì)角。

2). 判定標(biāo)準(zhǔn)：坐標(biāo)的偏離度如上右圖所示偏離超出±1mm的為NG，不超出的為OK

4. 靈敏度測(cè)試：

1). 測(cè)試方法：參照右圖對(duì)TP屏幕進(jìn)行劃分Nx×Ny，Nx=W/1mm，Ny=H/1mm，按所示的路徑有接地標(biāo)準(zhǔn)銅柱(?5mm、?6mm、?8mm，具體用哪個(gè)直徑銅柱根據(jù)實(shí)際項(xiàng)目需求)以5mm/S畫(huà)線，觀察是否有斷線。

2). 判定標(biāo)準(zhǔn)：若有斷線為NG，否則為OK。

5. 劃線測(cè)試：

1). 測(cè)試方法：對(duì)TP進(jìn)行分觸摸點(diǎn)定位，用銅柱(具體用哪個(gè)直徑銅柱根據(jù)實(shí)際項(xiàng)目需求)分別以高速1S/點(diǎn)，中速1.5S/點(diǎn)，低速2S/點(diǎn)依次觸點(diǎn)，其中先以高速觸完所有屏幕點(diǎn)后停4分鐘，再接著從頭開(kāi)始，如此反復(fù)4小時(shí)，接著以中速進(jìn)行4小時(shí)，接著再以低速進(jìn)行4小時(shí)。觀察報(bào)點(diǎn)坐標(biāo)超出范圍。

2). 判定標(biāo)準(zhǔn)：測(cè)試過(guò)程中不應(yīng)有斷線。

電容觸摸屏點(diǎn)擊劃線試驗(yàn)機(jī)主要配置：

電容觸摸屏點(diǎn)擊劃線試驗(yàn)機(jī)英文版：

Touch Panel Tester

Model: SZ-6411A

The touch panel tester independently researched, developed and manufactured by our company is a high-tech product integrating movement control, data collection, analysis and statistical technology, the core of which is the program of [touch panel control system] for testing. It has the advantages of strong function, simple programming, convenient operation and low price etc. It is applicable for CTP touch screen, infrared screen, complete machine manufacture (mobile phone and computer etc.) product research and development and product detection.

電容觸摸屏點(diǎn)擊劃線試驗(yàn)機(jī) Touch Panel Tester Specifications: